蔡司Sigma系列场发射扫描电子显微镜（SEM）
蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma系列，具有高品质的成像和分析能力，将场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验完美结合。可广泛应用于材料科学、生命科学、工业应用等领域。
蔡司扫描电镜原位解决方案
扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域，它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来，这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作，有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效，蔡司最新推出了扫描
PicoFemto（皮飞） 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆，可搭配FEI，JOEL，日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量，同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
热场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F是日本电子于2011年7月推出的新一代热场发射扫描电子显微镜，具有超高分辨率和快速高精度分析的特点，束流强度大，稳定性高，特别是在低加速电压下能够获得世界高的图象分辨率。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片，使用 ARTOS 3D  超薄切片机，仅需一半时间，即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
蔡司Crossbeam系列双束电镜（FIB-SEM）
蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
蔡司多束扫描电子显微镜
蔡司多束扫描电子显微镜MultiSEM505是专为半导体、生物等样品的大面积高分辨率成像开发的极高通量SEM，可以实现大尺寸样品的纳米级分辨率成像，同时具有高效的成像效率和数据采集速度，自动获取大面积高分辨率图像也更加方便快捷。